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DSC2311KM2-R0050、RT9513、ERJS02D62R0X、R5F21365CDFP、HF18FF/110-2Z23、XCVU1-2SFGC2104E、ERJS1DD1653U、XCKU115-3SLVF1924E、EEUEB2G220、GRM0333C1H3R5WA01#、ERJU0XF4872Y、SN65LBC180DR、SN74BCT244N、G#、MCF5307AI90B、ADM7150ACPZ-4.8-R2、FHX14LG、HF116F-2/003DP-2HST、ERJPA2F1433X、LTC1401CS8#TRPBF、ERJS08F1R21V、GRM1555C1H6R4CA01#、WL2805N12-3/TR、R5F563NFHDFP、EXBN8V472JX、UC1846J、AP22814ASN-7、UPD70F4022GM-GBY-AX、TXS2SS-L2-3V-1、TCTOAS0E227M8R-ZW1、LMP7707MAX/NOPB、MC9S12E128MFUE、GJM1555C1H9R2DB01#、RTL8402、HF13F/A100-2H2G、ERJ1TNF1243U、GJM1552C1H3R5WB01#、DSC1202CE3-106M2500T、DRA782BDGABFRQ1、CL1070JB8NFNC、M95640-RDW6TP、T4080NSE7PQB、M393A1G40EB1-CRC、HF92F-120A62C11S、GRM1555C1E6R0BA01#、ERJH3EF1621V、LCMXO3L-6900E-5MG256I、MCIMX6L7DVN10AC、S6E2H44G0AGV2000M、C、BU45L452G、MSP430F2002IN、SRKXA、ERJS1TF24R3U、ERJS06F12R0V、GJM0335C2A5R1DB01#、GRM32NR71C335KA01#、TLV2432CDR、EXB14V912JX、ATV04WF300J-HF、ERJPB3B5492V、NPCE8m8x、TMP86FS49BNG、EVS021CG6R5DK-W、XC6VHX255T-1FFG1923C、D9JRC、SN54S04J、HF3FA/006-ZSTF、RT6258B、MAX1954、S9S08EL32F1CTLR、TAS6424L、XCKU085-L1FFVF1924I、CZRT23C24-G、93C86AT-I/ST、LTC6905IS5-133#TRPBF、ERJS03F1503V、XCKU040-L1FFVA900I、VCC1-B3D-120M000000、XC2C256-7TQG144C、KMGX6001BA-B514、MLG0603N1STD25、ERJS14D6R81U、SF2176E、HL7648、HV20320、CC0805JRX7R9BB473、RB238NS-60FH、ERJPA2D1372X、SN74AUP1G99DCTR、APEK4447SLJ-01-T、IPD80R1K2P7、UMK316BJ474MLHT、LHLC10TB120K、CIM10N700NC、S9S12DG25F0VPVE、MRF148A、MT47H256M8THN-3ITES:G、DS92LV0421SQ/NOPB、RE46C141S16F
先测试出可控硅的峰值电压，将电线正负极连接至K两极，接地线接至室内主接地上，逐渐升压，测试其漏电流数值。进行漏电测试后，逐渐升压，观测漏电流，当数值超过其额定峰值电压后，可控硅被击穿，但采用此方法可能会破坏其PN结，并且只能测试其是否导通，而不能测试其导通是否良好，故不再采用此法进行测试。摇表测试法用摇表对可控硅进行测量，参照之前使用的漏电检测法。为防止摇表法测试过程中击穿或损坏可控硅，改变摇表操作方法，即要对摇表电压和转速进行控制，两笔端链接K极对其进行测试。
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